图书介绍
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- 蒋焕文,冯锡生编 著
- 出版社: 北京:高等教育出版社
- ISBN:15010·0786
- 出版时间:1987
- 标注页数:204页
- 文件大小:5MB
- 文件页数:212页
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图书目录
目录1
第一章 噪声的分析方法1
§1-1 随机过程的统计特性2
1-1-1 随机过程定义和数学描述2
1-1-2 平稳随机过程5
1-1-3 高斯过程和独立增量过程7
1-1-4 平稳随机过程的各态历经性11
1-1-5 复随机过程13
§1-2 随机过程的频谱特性14
1-2-1 周期随机过程的频谱特性14
1-2-2 非周期随机过程的频谱特性17
1-3-1 高斯(正态)噪声23
§1-3 高斯(正态)噪声23
1-2-3 复随机过程的功率谱密度23
1-3-2 高斯白噪声25
1-3-3 限带白噪声27
§1-4 随机信号和噪声通过线性网络29
§1-5 散粒噪声34
1-5-1 概述34
1-5-2 电子管中的散粒噪声35
1-5-3 晶体管中的散粒噪声42
§1-6 分配噪声46
1-6-1 方差定理47
1-6-2 电子管中的分配噪声47
1-6-3 双极型晶体管中的分配噪声49
§1-7 热噪声50
§1-8 噪声电路的计算57
1-8-1 噪声等效电压源和等效电流源58
1-8-2 串联电阻的噪声计算60
1-8-3 并联电阻的噪声计算62
1-8-4 电抗网络的噪声计算63
第二章 放大器的噪声65
§2-1 放大器的噪声模型和等效输入噪声65
2-1-1 放大器的噪声模型65
2-1-2 放大器的等效输入噪声66
§2-2 噪声系数和噪声量度69
2-2-1 噪声系数的定义69
2-2-2 最佳源电阻71
2-2-3 级联放大器的噪声系数73
2-2-4 噪声量度76
§2-3 噪声温度78
第三章 电子器件中的噪声82
§3-1 双极型晶体管的噪声82
3-1-1 双极型晶体管的噪声模型82
3-1-2 晶体管的等效输入噪声83
3-1-3 晶体管的中频段噪声系数85
3-1-4 晶体管的中频段En-In模型87
3-1-5 晶体管的低频和高频噪声90
3-1-6 噪声系数等值线94
§3-2 场效应晶体管的噪声模型98
3-2-1 场效应晶体管的噪声模型98
3-2-2 场效应晶体管的En-In模型100
§3-3 线性集成电路的噪声103
3-3-1 差分对的噪声特性104
3-3-2 恒流源中的噪声108
3-3-3 集成运算放大器的噪声115
第四章 低噪声放大器的设计120
§4-1 级联放大器的噪声分析120
4-1-1 引言120
4-1-2 级联放大器的等效输入噪声电流121
4-1-3 器件的通用噪声模型121
4-1-4 级联放大器的等效输入噪声电压125
§4-2 反馈放大器的噪声分析127
4-2-1 反馈对噪声特性的影响127
4-2-2 噪声的近似分析129
4-2-3 精确求解132
§4-3 “无噪声”偏置电路133
4-3-1 由电阻产生的总噪声的计算133
4-3-2 偏置电路的噪声和“无噪声”偏置135
§4-4 低噪声级的设计考虑138
4-4-1 设计任务与方法138
4-4-2 放大器件的选择139
4-4-3 电路组态的考虑140
4-4-4 工作点的选择140
4-4-5 反馈的考虑141
§4-5 设计举例142
设计例Ⅰ——低噪声级方案比较142
设计例Ⅱ——光前置放大器的噪声计算144
设计例Ⅲ——超低噪声摄象管前置放大器152
设计例Ⅳ——10nV直流放大器的设计157
第五章 噪声测量163
§5-1 有关噪声测量的一般问题163
5-1-1 噪声值的表示和测量163
5-1-2 带宽准则167
5-1-3 电压表的满度波蜂因数170
5-1-4 测量时间的影响172
§5-2 噪声测量的基本方法173
5-2-1 噪声测量——正弦波法173
5-2-2 噪声测量——噪声发生器法175
5-2-3 两种测量方法的比较177
5-3-1 测量电路178
§5-3 测量En和In及NF的正弦波法178
5-3-2 En和In的测量179
5-3-3 噪声系数的测量181
§5-4 噪声系数测量——噪声发生器法182
5-4-1 测量原理和基本误差183
5-4-2 标准噪声源1/f噪声的影响187
5-4-3 测量系统的带宽影响188
§5-5 噪声带宽的测量190
5-5-1 噪声带宽的测量——正弦波法190
5-5-2 噪声带宽的测量——噪声发生器法190
§5-6 集成运算放大器噪声参数的测量191
5-6-1 输入噪声电压En的测量192
5-6-2 输入噪声电流I-n和I+n的测量196
参考文献202
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